Застосування методу сигнатурного аналізу для перевірки мікросхем
| dc.contributor.author | Врублєвський Р. Є. | |
| dc.date.accessioned | 2024-10-22T10:48:32Z | |
| dc.date.available | 2024-10-22T10:48:32Z | |
| dc.date.issued | 2024 | |
| dc.description | Застосування методу сигнатурного аналізу для перевірки мікросхем [кваліфікаційна (магістерська) робота зі спеціальності 171 Електроніка; ОПП «Електроніка»] / Наук. кер.: к.п.н., доц. О. І. Кисельова; Державний університет інтелектуальних технологій і зв’язку. Одеса : ДУІТЗ, 2024. 62 с. | |
| dc.description.abstract | У магістерській роботі автором висвітлені наступні питання: представлена загальна характеристика технологічного процесу тестування електронних виробів; визначені особливості розробки та дослідження лінійного внутрішньо схемного тестування; розроблено цифрове внутрішньо схемне тестування; проведено проектування структури системи та вибору технічних засобів реалізації; описані технічні засоби реалізації, схеми та конструкції системи. Практична складова дипломної роботи втілена в розробці структурної схеми пристрою та блоку живлення. Після вибору елементної бази результатом виконаної роботи стала розробка принципової схеми проектованого пристрою, була розрахована собівартість та ціна даного пристрою. | |
| dc.identifier.uri | http://193.186.15.27:4000/handle/123456789/471 | |
| dc.language.iso | other | |
| dc.publisher | State University of Intelligent Technologies and Telecommunications | |
| dc.subject | мікросхема | |
| dc.subject | тестування електронних виробів | |
| dc.subject | сигнатурний аналіз | |
| dc.subject | конструкція системи | |
| dc.title | Застосування методу сигнатурного аналізу для перевірки мікросхем | |
| dc.type | Other |